意昂体育注册开户！。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。

　　■采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；

　　■基于双旋转补偿器设计，一次测量获得全穆勒矩阵16个元素，相对传统光谱椭偏仪可获取更加全面量测信息；

　　■集成对纳米光栅的分析，可同时测量分析纳米结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息。

　　使用颐光科技椭偏仪系列产品，（部分）提及并标注“Eoptics Technology”文献信息：

　　影响因子:16.89，单位：华中科技大学集成电路学院，通讯作者：傅邱云 等

　　影响因子:7.79，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：谷洪刚，刘世元 等

　　影响因子:10.5，单位：武汉光电国家研究中心，通讯作者：胡彬，王磊 等

　　影响因子:39.8，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等

　　影响因子:10.5，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：刘世元 等

　　影响因子:32.08，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等